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产品概要
CG高低温真空探针台是SEMISHARE多年来技术积累的创新成果,同时SEMISHARE也是国内较早自主研发推出的高低温真空探针台,CG高低温真空探针台能够实现样品在真空高低温环境下的精确电性、光强、波长、磁场等测试。2016年,SEMISHARE参与由哈工大和中国航天科技集团共建的“空间环境地面模拟装置”部分技术设计项目,其在超低温,超高真空,自动控制,激光模拟方面发挥着独有的技术优势。
基本信息
产品型号 |
SCG-O-4 |
工作环境 |
高低温真空环境 |
电力需求 |
AC220V,50~60HZ |
操控方式 |
手动探针台 |
产品尺寸 |
1100*1100*530mm |
设备重量 |
约190KG |
应用方向
CG高低温真空探针台在高低温真空环境下的芯片测试、LD/LED/PD测试、光纤光谱特性测试、材料/器件的I-V/C-V特性测试、霍尔测试、电磁输运特性、高频特性测试等。
技术特点
一、真空腔体
真空腔体采用外腔和屏蔽腔双腔体结构,为样品测试提供极限压力为10-4Pa的真空环境。低温测试时,避免空气中的水蒸气在样品上凝结成露水,从而避免漏电过大或探针无法接触电极而使测试失败。同时,由于真空绝热作用可是有效的提供制冷效率。高温测试时,避免了空气中的氧气氧化样品,从而避免样品电性误差、物理和机械上的形变。
二、探针臂XYZ调节机构
探针臂XYZ调节机构采用了自锁丝杠和交叉滚子导轨的结构,实现了探针定位精确为10um,探针漂移量优于±60nm/30mins的高精度点针。同时,采用三轴管状夹具和高屏蔽功能的三轴线缆,从而实现测试漏电精度达50FA。
三、探针热沉设计,定位更精准
SEMISHARE直流探针臂均配有两次热沉设计,第一次探针臂热沉在防辐射屏上、第二次探针通过陶瓷夹具热沉在样品台上。SEMISHARE的热沉设计能够有效的降低探针臂与测试器件的温差,提高了测试数据的精确性。
四、显微镜调节机构
显微镜调节机构通过调节支撑架的伸缩、高低以及显微镜自带调节座,可观测样品任意区域。20倍目镜和0.8倍-5倍的物镜变焦倍率,从而实现样品16X-100X的放大倍率。
五、制冷剂流量调节系统
制冷剂调节系统由杜瓦罐、压缩氮气压力控制阀及精密调节的针阀组成。控制低温时,通过调节压缩氮气压力控制阀来调节杜瓦罐中的压力,从而控制制冷剂流出的压力,继而调节制冷剂的流量;通过调节精密针阀进而精密控制制冷的流量,最终实现精准的低温控温功能。
六、制冷剂同轴回路
制冷剂同轴回路使制冷剂从中间进入管路进入样品台,流经屏蔽腔底板腔室,在回流至同轴回路外层回流管中,最后通过排气口排放到室外。制冷剂同轴回路使得制冷剂在排出的过程中加以利用,营造相对室温低很多的环境,抑制了进入样品台的制冷剂的提前消耗,从而提高制冷剂的制冷效率,较少制冷剂的消耗。
七、防震平台
防震系统采用进口韩国大一公司的空气弹簧式支撑架的防震平台。通过空气弹簧的形状、材质、弹簧室的容积及补助罐容积、阻尼孔径和水平调节阀等一系列减震设计,实现该系统垂直本征频率为1.5Hz,水平本征频率为1.2Hz的低频固有频率,承重达400Kg的优异承载能力。从而有效避免细微低频率频带的振动给测试带来的不利影响。
型号 | SCG-O-2 | SCG-O-4 | SCG-C-2 | |
外形 | 900*900*530mm | 1100*1100*530mm | 1100*1100*1030mm | |
重量 | 约170KG | 约190KG | 约290KG | |
电力需求 | AC220V,50~60HZ | |||
样品台 | 尺寸 | 2英寸 | 4英寸 | 2英寸 |
样品固定方式 | 真空导热硅脂/弹簧压片 | |||
样品台移动 | 固定的样品台 | |||
真空度 | 10^-10torr较高真空 | |||
光学特性 | 显微镜行程 | 2*2英寸 | 4*4英寸 | 2*2英寸 |
放大倍数 | 变焦:7:1分辨率4μm (放大倍数216X)或者选用金像显微镜(20X~1000X) | |||
真空腔观察窗尺寸 | 2inch | 4inch | 2inch | |
CCD像素 | 50W(模拟)/200W(数字)/500W(数字) | |||
温控规格 | 制冷方式 | 液氮/液氦 | 制冷压缩机 | |
控制方式 | 开循环手动/自动冷媒流量控制 | 闭循环自动控制 | ||
控温范围 | 77K~450K/4.2K~450K | 4.2K~450K | ||
控温分辨率 | 0.001K | |||
温度稳定性 | 4.2K ±0.2K 77K ±0.1K | |||
373K ±0.08K 473K ±0.1K | ||||
823K ±0.2K(可选) 973K ±1.0K(可选) | ||||
常温到8K冷却时间 | 90min | 150min | ||
8K到常温升温时间 | 90min | 90min | ||
常温开始的升温时间 | 100℃ 150℃ 200℃ | |||
30min 50min 80min | ||||
加热电源 | LVDC 低压直流 | |||
传感器 | 硅二极管 | |||
传感器数量 | 样品台,防辐射屏,探针臂各一个 | |||
功率 | 50W/100W/500W/1000W | |||
点针规格 | 探针数量 | 2个/4个/6个 | ||
探针调节 | 真空波纹管外部调节,手动控制 | |||
点针精度 | 10微米/2微米/0.7微米 | |||
X-Y-Z行程 | 25mm-25mm-25mm | |||
漏电精度 | 10pA/100fA | |||
接口形式 | 三轴/SMA/K/光纤接口 | |||
可选附件 | 防震桌 | |||
多级压缩制冷机 | ||||
机械泵/分子泵组/离子泵 | ||||
射频部件 | ||||
Chuck运动装置 | ||||
电磁铁系统/超导磁铁系统 | ||||
1Mpa正压系统升级 | ||||
超高温升级选件 | ||||
超高真空升级选件 | ||||
客户特殊定制 | ||||
应用方向 | 高低温真空环境下的芯片测试,材料测试,霍尔测试,电磁输运特性等 | |||
特点 | ||||
可进行真空环境下的高低温测试(4.2K~450K) | 可升级加载磁场 | |||
防辐射屏设计,样品温度均匀性更好 | 支持光纤光谱特性测试 | |||
兼容高倍率金相显微镜,可微调移动 | 器件的高频特性(支持高达67GHz频率) | |||
探针热沉设计 | LD/LED/PD的光强/波长测试 | |||
自动流量控制 | 材料/器件的IV/CV特性测试 |
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