T-4-10型探针的钨材质针尖在

扫描电镜下的成像

T-4 系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。采用不同直径的钨材质针须焊接于镀锡的铜材质针杆上。

其中T-4-10和T-4-22两款较受客户欢迎的型号。其针须直径较细，弹性良好，能够很好的减少对芯片电极的损害，在一定震动环境下也能保证与电极的良好接触。

因为会产生电容负载的问题，T-4 软针不建议在敏感节点使用。测试敏感节点，建议使用高阻抗Picoprobes系列探针。

图1

T-4 系列探针

型号

钨材质针须直径

针尖直径

针须长度

T-4-5

5 微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-10

10微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-22

22微米

<2.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-35

35微米

<4.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-60

60微米

<6.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-125

125微米

<10.0微米

0.20" (5.1mm)

表1

T-4 系列探针尺寸图

图2

ST 系列硬针是0.020 inch (0.51mm) 直径钨材质针杆经过精密电化学加工而成，应用于绝大多数的芯片电极点测和线路点测。

ST系列硬针可以用于刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。该探针可以选择表面镀镍，对应型号后面增加“NP”。

ST系列硬针

型号

针杆直径

针尖直径

ST-20-0.5

0.020" (0.51mm)

<1 微米

ST-20-1.0

0.020" (0.51mm)

<2.0微米

ST-20-2.0

0.020" (0.51mm)

<4.0微米

ST-20-5.0

0.020" (0.51mm)

<10.0微米

ST-20-10.0

0.020" (0.51mm)

<20.0微米

表3

ST 系列探针尺寸

图3